陶瓷絕緣子零值低的原因。

絕緣子工作頻率的擊穿電壓低于干閃電壓時(shí)，屬劣質(zhì)絕緣子。破壞絕緣體叫做零絕緣體。根據DL/T626-2015《掛式絕緣子質(zhì)量檢驗規程》：

①電壓等級在500kV及以上，絕緣子絕緣電阻小于500mol時(shí)，判定為劣化絕緣子。

②電壓等級在500kV以下，絕緣子的絕緣電阻不超過(guò)300m時(shí)，判定為劣化絕緣子。

大于10mω絕緣電阻的劣化絕緣子通常稱(chēng)為低絕緣體，低于10mω絕緣電阻的劣化絕緣子稱(chēng)為零。

零值絕緣子串的兩個(gè)主要原因：

首先，部分批次的絕緣子劣化率高，在投產(chǎn)初期沒(méi)有嚴格檢驗，造成次品帶??；

另外，由于機電負荷、日曬、冷熱變化等長(cháng)期作用，瓷絕緣子還會(huì )出現絕緣電阻下降、裂紋、穿孔等故障。

陶瓷絕緣子為零時(shí)，絕緣子過(guò)電流過(guò)電流時(shí)，污閃概率較高，即使在正常工作電壓下，也會(huì )出現污閃。在絕緣子串閃過(guò)程中，短路電流穿過(guò)零絕緣子內隙。高電流的熱作用會(huì )造成陶瓷零件、頭片破裂、鑄件破裂、鋼腳脫落、瓷頭燒成玻璃體等一系列嚴重事故。

陶瓷絕緣子低零值的檢測方法

相對于優(yōu)良絕緣體，零絕緣體的電學(xué)特性、局部放電及溫度分布有不同。針對這些特點(diǎn)和差別，可采用相應的儀器或設備進(jìn)行不同的測量。電壓分布法(火花叉法)是目前國內外對零值陶瓷絕緣子的檢測方法，并應用了紅外熱成像技術(shù)和絕緣電阻測定法。

分布電壓測定法(火花分法)：絕緣子串內有零值絕緣子時(shí)，對絕緣子串電壓分布影響很大。在火花叉端部安裝一根金屬絲做的叉子，使火花叉的一端與絕緣子下絕緣子鋼蓋子接觸。如果在測試的絕緣子鋼蓋板附近的另一端附近，鋼帽之間的空隙就會(huì )產(chǎn)生火花。測試絕緣子的分布電壓越高，火花產(chǎn)生的時(shí)間越早，火花的聲響也越大，可根據放電情況判斷被測絕緣子的電壓。如測量的絕緣子為零，則不受電壓影響，因而無(wú)火花。

測量漏電電流的方法：一般陶瓷絕緣子串漏電流為毫安級，在絕緣子存在時(shí)，地漏電流值隨時(shí)間的增大而增大。當前研制的測量漏流電流的電流傳感器在測量精度方面沒(méi)有問(wèn)題，但是漏電流值在正常情況下會(huì )隨時(shí)間和環(huán)境的變化而改變，因此還存在一個(gè)問(wèn)題。

紅外線(xiàn)成像技術(shù)：紅外熱成像技術(shù)檢測劣化絕緣子的原理，是根據劣化絕緣子的熱成像特性，使其呈現亮色(低)或暗(零)。若絕緣子串內溫度分布不連續亮色(或暗)熱像，則被判定為低(或零)絕緣子。

測量絕緣電阻的方法：主要由絕緣搖表和電子絕緣電阻計兩部分組成。零過(guò)載直測絕緣電阻表檢驗零值絕緣。對零或低值絕緣子采用絕緣電阻表進(jìn)行檢測是非常準確的。然而，由于單個(gè)測試時(shí)間較長(cháng)，每個(gè)陶瓷絕緣子的電阻值檢測時(shí)間至少為1分鐘，不適用于大規模絕緣子的測試。此外，由于檢測電壓低，難以發(fā)現大噸位絕緣子的缺陷。